原位薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU-上海昊量光电设备有限公司

原位薄膜厚度测量仪

简单描绘：原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。

新产品规格型号：MPROBE 50 INSITU

制造厂商本质：代理商

系统更新精力：2022-04-13

访问量：1218

品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	生物产业,电子,综合
原位薄膜厚度测量仪	MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度测量仪

<strong>原位薄膜厚度测量仪</strong>-MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度测量仪用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集，使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是*可定制的，以支持不同的负压室几何形状。根据可用的光学端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部（使用光纤馈通）。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。

的优势：

1.原位pe膜层厚和 n&k 测定

2.使用在高情况光情况下侧量的门控数据源采样

3.资料：500+ 初始化物料大数据表

4.连继、短时间和靠得住的量测

5.方便的手机配置——*自定义以适配的堆积室的代数图行

电磁阀选型文件列表：

MProbe50	主波长范围内	板厚标准
VIS	400nm -1100nm	15nm – 20 μm
HRVIS	700nm-1000nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	100nm – 200μm
UVVisF	200nm -900nm	1nm – 20μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm -200μm
XT	1590nm -1650nm	10μm-1mm

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