薄膜厚度均匀度在线测量系统MPROBE 60-上海昊量光电设备有限公司

薄膜厚度均匀度在线测量系统

简短简述：薄膜厚度均匀度在线测量系统-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。

产品设备应用：MPROBE 60

服务商概念：代理商

系统更新时刻：2022-04-13

访问量：1241

品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	生物产业,电子,综合
薄膜厚度均匀度测量系统	MPROBE 60

薄膜厚度均匀度在线测量系统-MPROBE 60

薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60

MProbe 60 是一个站式操作系统，专为研发项目管理部心中和小制造出而制作。它联系了预估规格/n&k 与会机械化白点预估的效果。MProbe 60 已用于研发项目管理部奈米系统心中。是可以便捷准确地预估 1 nm至 2 mm的规格，比如两层透明膜堆叠。与众不同的MProbe 60 一般参数一般受光谱图仪的主波长标准和判断率会影响，以致决策了可预估的规格标准。

薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60的优点：

1.体现了利索和引擎化的影射自然化的一坐式控制系统

2.定位精度<0.01nm 或 0.01%

3.500+ 延伸材质数据源库

4.pcAPP：用户账户舒适且的功能丰富性的 TFCompanion pcAPP有的可能治理zui复杂的的广泛应用平台程序。pcb电路板层数越多不的限制，搭载后面条件反射、表面层模糊度、暗度等方面。集成化的拍照和显像pcAPP禁止精密标记衡量位址并可以直接在图文上显现最终结果

薄膜厚度均匀度在线测量系统-MPROBE 60选型列表：

MProbe 60	光波长面积	体积尺寸使用范围
VISLX	400nm -1000nm	10nm – 75μm
UVVisSR	200nm-1000nm	1nm-75μm
UVVisF	200nm-900nm	1nm – 5μm
VISHR	700nm -1100nm	1μm – 400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm -100μm
VISNIR	400nm -1700nm	10nm-100μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm-100μm
NIRHR	1530nm-1580nm	25μm-2000μm

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薄膜厚度均匀度在线测量系统

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