微小区域薄膜厚度测量仪MPROBE 40 MSP-上海昊量光电设备有限公司

微小区域薄膜厚度测量仪

简略简述：微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。

护肤品材质：MPROBE 40 MSP

零售商基本特征：代理商

不断更新时段：2022-04-13

访问量：1191

品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	生物产业,电子,综合
微小区域薄膜厚度测量仪	MPROBE 40 MSP

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量，用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来又决定了可以测量的厚度范围。

<strong><strong>微小区域薄膜厚度测量仪</strong>-MPROBE 40 MSP</strong>

app：

1. 精度估测园柱或曲面上方薄膜和珍珠棉宽度：滴注器、支架上、销钉、家用电线等。是在长度弯折的表皮上方，少点也会有宽阔的场以构建精度精度估测。

2. 不更加均匀的、毛糙的镀层或光散射用料，如高雾度或纳米级水粒子赋予聚酰亚胺膜。小黑斑定位功能在线测量很好地增多光散射和不更加均匀的性的后果

3.图型晶圆、MEMS 和某些必须高快速度领域的活动域检测的的应运。

核心样式：

精确	0.01nm或0.01%
精准度	0.2%或1nm
保持稳界定	0.02nm或0.03%
聚中心点的尺寸	0.2mm或0.4mm
产品的样品规格尺寸	>20mm
重量範圍	0.05-70um
主波长依据	400-1000nm

选择型号数据库：

MProbe 40	主波长范围内	薄厚范围之内
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm -75μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可依照标准制定定制化感应器

针对昊量光电技术：

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微小区域薄膜厚度测量仪

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

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