品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 电子 | 多波长动态干涉仪 | 纳米级相位分辨率 |
Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪
【KALEO MultiWAVE 简价】
Phasics在光学计量领域持续创新,推出能够兼顾测量电子散射波前出现偏差的原因和反射性波前不确定度(TWE / RWE)的革命性新产品:Kaleo MultiWAVE动态干涉仪。 直径高至5.1英寸(130毫米)的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。 Kaleo MultiWAVE是购买多台干涉仪或特殊波长干涉仪的有效替代方案,拥有*性价比。 该系统同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度,及动态干涉仪的抗震性能。
【关于幼儿园Phasics】
Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。
一、 Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪重要基本特征
- 紫外光、探及光、近红外、短波红外、中远红外等符合各种多光波波长个人定制
- 单台涉及仪可模块化诸多业务光波波长
- 微米级相位辨认率
- 超宽情况依据 (>500 有条纹数)
二、KALEO MultiWAVE 应用
- 光学元件薄膜元器件及光学元件薄膜系统的计量检测
三、KALEO MultiWAVE 校正案例库
四、KALEO MultiWAVE 标准参数表(1)
RMS重复性 (2) | < 0.7 nm (< λ / 900) |
测量精度 | 80 nm PV (3) |
动态范围(离焦值) | 500 fringes (SFE = 150 μm) |
可测反射率范围 | 4% - 100% |
(1) 四英寸口径,使用625 nm光源