<NT-MDT原子力显微镜-上海昊量光电设备有限公司
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NT-MDT原子力显微镜

概要阐述:自1998年以来,NT-MDT已成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相集成。支持包括HybriD ModeTM在内的30多种基本和高级AFM模式,可提供有关样品表面物理性质的广泛信息。 AFM与共焦拉曼/荧光显微镜的集成提供了有关样品的更多信息。NT-MDT原子力显微镜

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品牌其他品牌产地类别进口
应用领域医疗卫生,生物产业,电子,交通

NT-MDT原子力显微镜

自199八年至今,NT-MDT莫染功地将AFM与光学玻璃显微镜观察和光谱图枝术相模块化。搭载其中包括HybriD ModeTM在其中的30不同基础和高层AFM的模式,可出具相关产品的仿品外壁工具规定性的非常广泛资料。 AFM与共焦拉曼/荧光显微镜观察的模块化出具了相关产品的仿品的更多的资料。*想同的样机地方另外测量方法的AFM和拉曼图可带来了相关的样机物理学性能(AFM)和检查是否含量(Raman)的填写问题。NTEGRA Spectra II利用自身增加拉曼散射(TERS),还可以实行奈米级粪便率的光谱仪学/显微术。特殊的AFM测试探针(奈米无线天线)可以选择于TERS,以增加和标记上面附近商场奈米级地域的光。这样奈米级外置天线担任光的“奈米级源”,可以打造了光电技术薄膜元件影像的可能会性,其辩别率低于衍射超凡(max〜10 nm)。检测近场光电技术薄膜元件体视显微镜(SNOM)是赚取旋光性合格品的光电技术薄膜元件和光谱仪形象的另种步骤,其辩别率受探头管径规格(〜100 nm)的限制。

NT-MDT 原子力显微镜系统光路图

拥有应该的刺激/的检测和TERS的解决办法细则

应用

CdS纳米技术级线实现导电汇聚物纳米技术级线与黑色金属电级相连接。 AFM测试探头凭借检查光学显微镜地位在结构特征上。 随着AFM测试探头的图形,激光机器也可以间接地位在节点上。好的成绩辨率AFM图案可具备光于产品的样品形貌的产品信息。 从相同一地域得到的拉曼图和荧光图表现出纳员米线电学好分的不一致性。

光学图片

                            

分子力显微镜观察扫码图                           拉曼扫码图                                  荧光扫码图         

  &nbsp;          拉曼谱

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