<膜厚测量仪-MProbe系列膜厚测量仪
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膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)

简述叙述:膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

  • 物料款式:MProbe系列
  • 经销商化学性质:代理商
  • 系统更新时:2021-09-10
  • 访  问  量:2326
详细说明了解
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,电子 精度0.01nm或0.01%

膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY

加拿大Semisonsoft司MProbe型号溥膜测厚仪精确估测厚薄能能低至1nm,厚至1.8mm,埃级辩认率,非排斥式无损音乐更快精确估测。非常广泛技术应用在几种加工或分析中,就比如精确估测溥膜阳光直晒能电瓶的CIGS层,触摸式屏中的ITO层等。大局部透光或弱消除的溥膜均能能快速且稳定的被测量

 

估测工作原理:当指定光的波长区间的太阳光照射入胶片上时,从来都不相同网页上射线的光相位不相同,因而吸引干扰造成密度相长或相消。而这样密度的自由自激振荡是与胶片的架构重要性的的。确认对这样自由自激振荡拟合曲线和傅里叶调整就可换取样本高度和重要性的的光学反应常数。

 比喻:半导体器件(硅,多晶硅硅,多晶硅)半导体行业单质(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)微微电子技术机制(MEMS)金属氧化物物/氮化物光刻胶硬表层(炭化硅,类金刚石炭)汇聚物涂膜(聚对二甲苯,聚甲基亚克力 甲酯,丙烯酸树脂)满分子式聚合反应物 

MProbe膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)操作简单,只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息,膜厚测量设备可支持不同光谱范围,光谱范围可达200-1700nm,因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件,所以测量结果几乎是即时得到的;TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明,测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。

 

膜厚在测量仪器分类管理: 1、单点膜厚测试——MPROBE-20MPROBE-20膜厚测试仪就是一款台式一体机单点膜厚测试装置,装置方法非常简单,快捷键换取样板的重量和突显出岁月率,并可保证区别激发光谱时间规模(符合于区别重量保护膜)选取。MPROBE-20具备这几个参数,雇主可随着本人想要的激发光谱时间规模和保护膜重量来选取。

可供首选款型:
具体型号 激发光谱时间范围 重要配资 重量比率
VIS 200nm -1100nm F3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos,  16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp 10nm – 75 μm
UVVISSR 700nm -1100nm F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp 1nm -75μm
VIS-HR 900nm-1700nm F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp 1μm-400μm
NIR 200nm-800nm F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp 50nm – 85μm
UVVisF 200nm -1700nm F4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp 1nm – 5μm
UVVISNIR 1500nm-1550nm F4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp 1nm -75μm
NIRHR 200nm -1100nm F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)
 2、单点笔型膜厚量测——MPROBE HCMPROBE HC膜厚检测的仪就是一款依据MPROBE-20软件平台开发管理專用于检测的弧面和超大型零部件上的涂膜,手去动探头替换试品台。

 主要的参数值:
表面粗糙度 0.01nm或0.01%
精确性度 0.2%或1nm
不稳判定性 0.02nm或0.03%
聚端点大小 0.2mm或0.4mm
样本的尺寸 >25mm
强度依据 0.05-70um
 3、聚焦点光点膜厚预估仪——MPROBE 40MPROBE 40是一种款瞄准的小亮斑膜厚量测体统,该护肤品将显微体统和膜厚量测的机械设备组合下去,中用对膜厚的微区量测,亮斑相当于2μm。该的机械设备集成化手机相机和app软件,可正确彰显待测地址,并同一时间彰显量测结局。

该设配有不相同吸光度的范围供选,可供选的品牌类型下面:

 4、原位精确精确测量膜厚精确精确测量器——MPROBE 50 INSITUMPROBE 50 INSITU不是款适配软件原位量测膜厚量测仪,该环保设备应用门控动态数据的采集程序方试那么不错在高环保光的要求下工作的。于此该类型膜厚量测仪适配软件设计以充分满足各不相同形壮的正空腔。据能能选择的光学元件反应窗子,适配软件斜入射和竖直入射。光不错准确把握仿品从表面或准直,探测器传感器不错安放在沉淀室光学元件反应表层内部管理或外观,原因该膜厚量测仪也没有挪动配件,经常量测时候约10ms。

  因此该参数还是多样k线标准可选泽,可供选泽参数详细

 5、帮助Mapping的把握膜厚检测仪——MPROBE 60MPROBE 60就是一款集中并可做mapping的膜厚测定专用设备,按顺序误差led光通量0.01nm,误差led光通量1nm,mapping面积计算led光通量300*300mm。并不支持很多激发光谱空间要选。

可供选择光的波长规格:

 6、在线上膜厚侧量仪——MProbe 70MProbe 70也是款性能高方面膜厚测定仪,重点设汁代替24/7制造线上线下直播的陆续测定。该设施重点有两个设置一是在产线上线下直播标准配置若干固定不变的传感器,然后种是将传感器装在扫描机机仪上扫描机机。

     
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