品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 环保,电子 | 精度 | 0.01nm或0.01% |
膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY
加拿大Semisonsoft司MProbe型号溥膜测厚仪精确估测厚薄能能低至1nm,厚至1.8mm,埃级辩认率,非排斥式无损音乐更快精确估测。非常广泛技术应用在几种加工或分析中,就比如精确估测溥膜阳光直晒能电瓶的CIGS层,触摸式屏中的ITO层等。大局部透光或弱消除的溥膜均能能快速且稳定的被测量
估测工作原理:当指定光的波长区间的太阳光照射入胶片上时,从来都不相同网页上射线的光相位不相同,因而吸引干扰造成密度相长或相消。而这样密度的自由自激振荡是与胶片的架构重要性的的。确认对这样自由自激振荡拟合曲线和傅里叶调整就可换取样本高度和重要性的的光学反应常数。
MProbe膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)操作简单,只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息,膜厚测量设备可支持不同光谱范围,光谱范围可达200-1700nm,因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件,所以测量结果几乎是即时得到的;TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明,测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。
膜厚在测量仪器分类管理: 1、单点膜厚测试——MPROBE-20MPROBE-20膜厚测试仪就是一款台式一体机单点膜厚测试装置,装置方法非常简单,快捷键换取样板的重量和突显出岁月率,并可保证区别激发光谱时间规模(符合于区别重量保护膜)选取。MPROBE-20具备这几个参数,雇主可随着本人想要的激发光谱时间规模和保护膜重量来选取。可供首选款型:具体型号 | 激发光谱时间范围 | 重要配资 | 重量比率 |
VIS | 200nm -1100nm | F3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos, 16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 700nm -1100nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp | 1nm -75μm |
VIS-HR | 900nm-1700nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp | 1μm-400μm |
NIR | 200nm-800nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -1700nm | F4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp | 1nm – 5μm |
UVVISNIR | 1500nm-1550nm | F4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 1nm -75μm |
NIRHR | 200nm -1100nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
表面粗糙度 | 0.01nm或0.01% |
精确性度 | 0.2%或1nm |
不稳判定性 | 0.02nm或0.03% |
聚端点大小 | 0.2mm或0.4mm |
样本的尺寸 | >25mm |
强度依据 | 0.05-70um |