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激光测量设备

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太赫兹扫描干涉仪
太赫兹扫描干涉仪主要用于测量窄带太赫兹辐射的波长和强度分布，同时也可用于脉冲和连续窄带太赫兹辐射源。TSFPI由两个半透明平行硅镜组成，其中一个安装在电机驱动的线性致动器上。

型号：厂商性质：POS机批发商
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SID4-eSWIR短波红外波前传感器(波前分析仪)
短波红外波前传感器(波前分析仪)将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起，提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。

型号：SID4-eSWIR 厂商性质：经销商
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SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)
SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。

型号：SID4-NIR 厂商性质：代理加盟商
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SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)主要特点低至190nm波长感光灵敏 1 nm RMS高相位灵敏度 355 x 280超高相位取样分辨率

型号：SID4-UV-HR 厂商性质：经销商
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SID4-Bio定量相位成像相机
SID4-Bio定量相位成像相机直接测量透过任何生物标本光的相位，可与任何光学显微镜一起搭配使用，能够测量活细胞样品及众多其他透明样品上有价值的光学数值参数。

型号：SID4-Bio 厂商性质：代里商
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SID4-SWIR-HR高分辨率短波红外波前传感器
SID4-SWIR-HR 高分辨率短波红外波前传感器是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

型号：SID4-SWIR-HR 厂商性质：微商销售商
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SID4-UV紫外波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV 紫外波前传感器(波前分析仪)与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。

型号：SID4-UV 厂商性质：代商
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KALEO多波长激光干涉仪模块
KALEO套件多波长激光干涉仪模块是用于光学计量的模块化系统。它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。

型号：KALEO 厂商性质：POS机加盟代理商
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SID4标准型波前传感器(波前分析仪)
SID4标准型波前传感器(波前分析仪):剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的多功能工具。

型号：SID4 厂商性质：地区代理
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点衍射激光干涉仪
点衍射激光干涉仪: 绝对测量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重复精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

型号：厂商性质：加盟商
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紧凑型高精度M2（光束质量分析仪）
CinSquare system是Cinogy公司设计生产的一体化高精度专用M^2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M^2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。紧凑型高精度M2（光束质量分析仪） - CinSquare系列

型号：厂商性质：选择商
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光弹性系数测量仪
光弹性系数测量仪：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“

型号：厂商性质：代理加盟商
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